Sažetak
S povećavanjem brzine rada sklopova sve su izrazitiji različiti problemi povezani s kvalitetom signala. Premda se ovi problemi očituju kod gotovih sustava, problemi najčešće nastaju na tiskanim pločicama (PCB) i na samim čipovima. Pod kvalitetom signala obično se podrazumijeva ne samo prijenos signala bez izobličenja, nego i to da sklop ne smije biti podložan utjecajima neželjenih signala koji dolaze izvana (electromagnetic susceptibility), kao i da sam sklop ne smije proizvoditi smetnje (electromagnetic interference). Modeliranje ovih efekata naročito je važno tokom projektiranja sklopova kako bi se izbjegli problemi u radu samih sklopova, ali i da bi se zadovoljile norme za elektromagnetsku kompatibilnost.
U ovom ćemo se predavanju koncentrirati na reflektometriju u vremenskoj domeni (Time-domain reflectometry - TDR) kao i na prijenos u vremenskoj domeni (Time-domain transmission - TDT) koje se koriste u karakterizaciji i modeliranju kvalitete signala u sklopovima. Obje se temelje na slanju skokovitog signala sa vrlo kratkim vremenom porasta od otprilike 20 ps i mjerenju reflektiranog ili prenesenog signala. U predavanju će se objasniti detalji vezani uz samu mjernu tehniku i njeni glavni problemi. Nadalje, opisat će se postupak dobivanja nadomjesnih sklopova na temelju TDR-TDT odziva i kako se ova metodologija može koristiti za analizu i modeliranje sklopa za ispitivanje elektromagnetske kompatibilnosti koji je razvijen na FER-u. Prezentirat će se preliminarni rezultati i zaključiti prikazom plana istraživanja na projektu.
__________________________________________
Ovo istraživanje djelomično se financira kroz program „Priljev mozgova – Gost“ Nacionalne zaklade za znanost, visoko školstvo i tehnologijski razvoj Republike Hrvatske.
O predavaču
Branimir Pejčinović diplomirao je na FER-u (tada ETF-u) Sveučilišta u Zagrebu, a magistrirao i doktorirao na University of Massachusetts, Amherst. Izvanredni je profesor i pomoćnik ravnatelja zadužen za dodiplomsko obrazovanje na Odjelu za Elektrotehniku i racunarsku tehniku na Sveučilištu Portland State. Također je ko-direktor Laboratorija za projektiranje i testiranje integriranih sklopova, koji ima jedinstvene mogućnosti za mjerenja, karakterizaciju i modeliranje digitalnih, mješovitih digitalno/analognih, te visokofrekvencijskih elemenata i integriranih sklopova. Bavi se istraživanjima u području mjerenja, karakaterizacije i modeliranja poluvodičkih elemenata (SiGe BJT, GaAs FET, strained-SOI CMOS, InSb, APD) kao i problemima u području kvalitete signala i elektromagnetske kompatibilnosti. Bio je supredsjedatelj tehničkih programskih odbora dviju konferencija: IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) 2002 te IEEE MELECON 2004, kao i gost-urednik za specijalna izdanja Analog Integrated Circuits And Signal Processing Journal (prosinac 2004) te Telecommunication Systems Journal (srpanj 2006) koja su sadržavala najbolje radove sa tih konferencija. Takodjer je bio član Tehničkog programskog odbora za International Microwave Symposium. Trenutačno je na studijskoj godini na FER-u.
