Područje interesa Odjela za elektroničke elemente uključuje sve elemente temeljene na elektronima i ionima koji generiraju ili su u interakciji s fotoelektričnim, elektromagnetskim, elektromehaničkim, elektro-termalnim i bioelektričnim signalima.
Područje interesa Odjela za poluvodičke integrirane sklopove uključuje projektiranje, implementaciju i primjenu poluvodičkih integriranih sklopova.
Hrvatska sekcija IEEE, Odjel za elektroničke elemente / poluvodičke integrirane sklopove pozivaju vas na predavanje
Pouzdanost bipolarnih tranzistora u integriranim sklopovima,
koje će održati Josip Žilak, dipl. ing., ZEMRIS, FER.
Predavanje će se održati u petak, 28. studenog 2014. u 12 sati u seminaru ZEMRIS-a (3. kat D zgrade). Sadržaj predavanja i životopis predavača pročitajte u nastavku obavijesti.
Životopis:
Josip Žilak diplomirao je 2009 godine na Fakultetu elektrotehnike i računarstva u Zagrebu. Nakon toga zaposlen je u tvrtki Xylon d.o.o. na radnom mjestu razvojnog FPGA inženjera gdje sudjeluje na projektima razvoja i testiranja ugradbenih računalnih sustava baziranih na FPGA tehnologiji. Od lipnja 2011. godine zaposlen je kao znanstveni novak na Fakultetu elektrotehnike i računarstva Sveučilišta u Zagrebu, gdje trenutno radi na doktoratu u području mikroelektronike. Njegov znanstveni rad fokusiran je na napredne strukture bipolarnih tranzistora s naglaskom na eksperimentalnu demonstraciju tehnologije bazirane na bipolarnom tranzistoru s horizontalnim tokom struje - HCBT. U sklopu istraživanja bavi se simulacijama, projektiranjem i mjerenjem integriranih sklopova temeljenih na HCBT-u. Sudjelovao je u uspostavljanju mjernog sustava za karakterizaciju elektroničkih elementa i sklopova za komunikacijsku tehnologiju. Autor je i ko-autor većeg broja znanstvenih radova na međunarodnim konferencijama te tehničkih ekspertiza za industrijske partnere. Član je društva za elektroničke elemente IEEE (IEEE EDS).
Sažetak:
Pouzdanost rada elektroničkih elemenata jedan je od važnih zahtjeva kod projektiranja i proizvodnje elektroničkih sklopova i sustava. Elementi se moraju pokazati robusnima i pouzdanima pri tipičnim uvjetima rada. Pouzdanost i vrijeme života elektroničkog elementa (tranzistora) usko su povezani. Prilikom ispitivanja pouzdanosti tranzistor se izlaže ekstremnim uvjetima rada u određenim vremenskim intervalima koji ubrzavaju starenje tranzistora. Ono se očituje u pogoršavanju pojedinih karakteristika poput pada strujnog pojačanja (bipolarni trenzistor) ili porasta struje curenja(CMOS). Podaci dobiveni u ekstremnim uvjetima mogu se koristiti za predviđanje vremena života i definiranje sigurnog područja rada tranzistora. U predavanju će biti analizirane karakteristike pouzdanosti HCBT struktura proizvedenih s različitim parametrima tehnološkog procesa. Zbog specifičnosti HCBT strukture, karakteristike se razlikuju od standardnih vertikalnih bipolarnih struktura i bit će objašne mjerenjima i TCAD simulacijama.
