U petak, 22. svibnja u Sivoj vijećnici od 9 do 14 h održat će se radionica o aktivnostima i rezultatima projekta "Elektronički senzorski sustavi s niskom potrošnjom energije za detekciju akustičkih događaja - NPOO.C3.2.R2-I1.06.0090".
U sklopu radionice, članovi istraživačkog tima s FER-a i gosti predavači s dvaju vrhunskih EU nanotehnoloških instituta će kroz 7 kratkih predavanja prikazati zajednička istraživanja naprednih izvedbi piezoelektričkih ultrazvučnih mikroelektromehaničkih (MEMS) senzora i mikroelektroničkog sklopovlja na čipu s primjenama u industrijskim nerazornim ispitivanjima i biomedicini.
Program radionice se nalazi ovdje. Sudjelovanje je besplatno. Pozivaju se svi zainteresirani da poslušaju predavanja.
Događanje organizira projektni tim sa Sveučilišta u Zagrebu Fakulteta elektrotehnike i računarstva u suradnji s Odjelom za instrumentaciju i mjerenja (IM09) Hrvatske sekcije IEEE.
Kroz istraživanja naprednih izvedbi piezoelektričkih ultrazvučnih mikroelektromehaničkih (MEMS) senzora na čipu s primjenama u industrijskim nerazornim ispitivanjima i biomedicini, istraživački tim pod vodstvom izv. prof. Dinka Oletića na FER-u razvija nove znanstvene i tehnološke kompetencije u području modeliranja, projektiranja, tehnologija izrade i karakterizacije mikroelektromehaničkih (MEMS) senzora. Navedena znanja tim kombinira s bogatim FER-ovim iskustvom u projektiranju analognog i digitalnog mikroelektroničkog sklopovlja na čipu, elektroničkim mjerenjima i instrumentaciji te obradi signala.
Članovi istraživačkog tima izv. prof. Dinko Oletić, doc. Jurica Kundrata, dr. Edi Emanović, doktorandi Mihael Katalenić i Niko Plantak te gosti predavači iz dvaju vrhunskih EU nanotehnoloških instituta prof. Emile Martincic, dr. Etienne Herth (C2N, Universite Paris Saclay, Francuska) te Peter Fecko i Linda Supalova (CEITEC Nano, Brno University of Technology, Češka) će kroz ukupno sedam kratkih izlaganja predstaviti glavne istraživačke ciljeve, aktivnosti i rezultate ovog projekta. Radionica uključuje i obilazak laboratorija D140 s novonabavljenom opremom za karakterizaciju MEMS senzora na zavodu ZESOI.
